Vakuum in Forschung und Praxis
Published by John Wiley & Sons
ISSN : 0947-076X eISSN : 1522-2454
Abbreviation : Vák. Forsch. Prax.
Aims & Scope
VIP - Vakuum in Forschung und Praxis - Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflächen und Dünne Schichten ist die einzige Zeitschrift für alle Bereiche der Vakuumtechnologie und Dünnschichttechnik, die sich als Brücke und Bindeglied zwischen Wissenschaftlern, Praktikern und Anwendern aus Forschung, Entwicklung und Produktion versteht.
Sie berichtet und informiert über neueste Entwicklungen und Erkenntnisse.
VIP - Vakuum in Forschung und Praxis veröffentlicht u.a. -Übersichtsartikel- Fachaufsätze- referierte Beiträge aus der Forschung- Anwenderberichte- Produktinformationen- Interviews- Buchbesprechungen und -hinweise- Produkt- und Lieferantenverzeichnis
View Aims & ScopeMetrics & Ranking
Impact Factor
| Year | Value |
|---|---|
| 2025 | 0.2 |
| 2024 | 0.40 |
SJR (SCImago Journal Rank)
| Year | Value |
|---|---|
| 2024 | 0.120 |
Quartile
| Year | Value |
|---|---|
| 2024 | Q4 |
h-index
| Year | Value |
|---|---|
| 2024 | 14 |
Journal Rank
| Year | Value |
|---|---|
| 2024 | 27341 |
Journal Citation Indicator
| Year | Value |
|---|---|
| 2024 | 16 |
Impact Factor Trend
Abstracting & Indexing
Journal is indexed in leading academic databases, ensuring global visibility and accessibility of our peer-reviewed research.
Subjects & Keywords
Journal’s research areas, covering key disciplines and specialized sub-topics in Materials Science and Physics and Astronomy, designed to support cutting-edge academic discovery.
Most Cited Articles
The Most Cited Articles section features the journal's most impactful research, based on citation counts. These articles have been referenced frequently by other researchers, indicating their significant contribution to their respective fields.
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Substitution of the CdS buffer layer in CIGS thinâ€film solar cells
Citation: 60
Authors: Wolfram, Stefanie, Dimitrios
-
Realistische Modellierung der NIR/VIS/UVâ€optischen Konstanten dünner optischer Schichten im Rahmen des Oszillatormodells
Citation: 33
Authors: Olaf, Steffen, Karen Friedrich, Norbert
-
Technological Capabilities of Vacuum Arc Plasma Sources
Citation: 29
Authors: Yu. A., N. Z., A. A., D. K.
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Optical spectrometry in the diagnosis of ionâ€plasma processes
Citation: 20
Authors: D. K., A. A., A. A.